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當前位置：首頁  >  產品展示  >  徠卡顯微鏡  >  晶圓檢測顯微鏡  >  Leica DM8000M徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡

徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡

簡要描述：徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡 - Leica DM8000M提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于**的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了

  • 產品型號：Leica DM8000M
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2026-03-12
  • 訪  問  量：108

詳細介紹

　　徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡 - Leica DM8000M
 
　　提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于**的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性**降低了用戶 今后的使用成本.。
 
　　只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模
 
　　半導體檢查顯微鏡DM8000 M,半導體測試顯微鏡DM8000 M,封裝檢查顯微鏡DM8000M,封裝測試顯微鏡,8寸晶元檢查顯微鏡
 

為您帶來的優勢

視野擴大四倍以上

宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。

極限分辨率

全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。

人機工程學設計

非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。

LED 照明

內置一體化的 LED照明 達到了空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。


 

 

 



 



 

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