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  • 徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡
    徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡

    徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡 - Leica DM8000M提供了全新的光學(xué)設(shè)計(jì),如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力,同時(shí)也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時(shí)的產(chǎn)量。該機(jī)照明 基于**的 LED 科技 ,一體化整合在顯微鏡機(jī)身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了

    更新時(shí)間:2026-03-12型號(hào):Leica DM8000M訪問量:108
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